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回路電阻測試儀合成電阻的設計


回路電阻測試儀合成電阻的設計,以取代精密電阻箱、電位器。把電阻箱改成了由繼電阻切換可輸出所需阻值[1],但其體積大且串接了繼電器接觸電阻。用數字電位器通過切換半導體電阻來得到可變的阻址,由于串入較大開關導通電阻且溫度穩定性差,無法獲得精密電阻值及高分辨率。用運放等構成單口網絡,通過編程得到輸入電壓及電流的比值,即可獲得可編程的線性電阻。這種阻抗合成技術可獲得很高精度的輸出電阻,如WAVETEK公司的9100型多功校準源[2]就采用了合成電阻。
1 電阻設計
合成電阻的電路原理圖如圖1所示,由輸入運放、D/A輪換器、模擬開關、輸出運放及失調調零電路構成。施加于標準電阻一端的輸入電壓值經過緩沖放大、比例調節后,反饋到標準電阻的另一端,以此來控制輸入電流,從而確定輸入電阻值。
運算放在器A1接成電阻跟隨器形式,輸出電壓為U10=Ui,作為D/A轉換器的基準電壓。D/A轉換器由U1及U2復合而成,均采用電壓輸出型乘法轉換器,使基準電壓即使減小到接近零也可得到較好的比例輸出。數/模轉換器的傳輸系數K由輸入數/模轉換器U1、U2的數字信號決定。因此D/A轉換器的輸出電壓為UD/A=Kui。由于A2工作于線性放大狀態時兩輸入端嗯位相等,因此A2的反相端電壓為KUi。模擬開關S1上電流為零,因此連接于通開關的標準電阻下端電壓也為KUi,合成電阻的輸入電流通過標準電阻及模擬開關S2全部流向運放A2的輸出端。這樣,施加于標準電阻上的電壓為Ui-KUi,電流為Ii=(Ui-KUi)/Rs。由于運放A1的同樣輸入電流為零,則對輸入端來講,可得合成電阻R=Ui/Ii為:
R=Rs/1-K    (1)
即標準電阻倍增了1/(1-K)倍,而與模擬開關的導通電阻無關。當K=0時,電阻不變;當K=0.9時,電阻放大10倍。可見,可以通過改變D/A轉換器的輸入值以調整K值來改變合成電阻值。標準電阻Rs通過模擬開關S1、S2選擇為10Ω、100Ω、1kΩ、10KΩ,從而可得到輸出100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ等連續電阻量程。電路中,運算放大器A1連接成電壓跟隨器的形式,A2接近單位增益,并接入校正電容,因此呆得到穩定的合成電阻。

    在電路中,用兩個D/A轉換器復合可以合成更高的分辨率。如兩片低溫漂高穩定性的16位乘法D/A轉換器的合成,可以得到20倍以上的分辨率。運放A2構成了同相加法器,同相端的電壓為:
UDA=R10/(R9+R10)UDA1+R10/(R9+R10)UDA2
取R10=65536R9,則:
UDA=(65536/65536)UDA1+(1/65536)UDA2
這樣即可把兩16位數/模轉換器的輸出拼合成32位輸出,以得到盡可能高的分辨率。
2 誤差分析
式(1)中電阻是基于理想到的,但實際運放由于存在失調電壓、熱電勢、偏置電流等會引入誤差。合成電阻施加的電壓較小時,失調電壓及熱電勢等誤差電壓的影響較大;電流較小時,偏置電流影響較大。在兩級運放中,設失調電壓與相應的熱電勢等誤差電壓之和分別是Ue1、Ue2,則運放A1輸出端及A2反相輸入端的電壓分別為:
Uo1=Ui-Ue1
U2i=KU01-Ue2
其中,K為D/A轉換器的傳輸系數。
再由Ii=(Ui-U2i-)/Rs及R=Ui/Ii,可得合成電阻值為:
R=[Rs-(Kuel+Ues)/Ii]/1-K   (2)
或R=Rs/1-K+(Kuei+Ue2)/Ui    (3)
可見,Ue1、Ue2與合成電阻值有關,回路電阻測試儀合成電阻的設計,并使電阻變成非線性,當Ue1、Ue2為0時,上式退化為(1)式。可見,其誤差不僅與Ue1、Ue2成正比,而且與Ii或Ui成反正,即合成電阻的工作電流電壓越小,相對誤差越大。如挑選失調電壓優于10μV的低溫漂精密運算放大器AD707K,外接失調調零電位器調整后,短期內Ue1、Ue2可控制在0.1μV以內。此時,如K=0.9,Rs=1kΩ,工作電流在0.2mA時,由(2)式可得Ue1、Ue2引入的誤差接近1ppm,即誤差比K=0時放大了10倍。
輸入運放的偏置電流也會分流輸入電流而此入較大誤差,其相對誤差為Ib/Ii。工作于0.2mA時,如采用典型偏置電流為0.5nA的運放AD707K,可產生2.5ppm的誤差,如加大工作電流一步減小誤差。采用某些斬波穩零的運放(如典型失調電壓為0.5μV、典型偏置電流僅為2pA的TLC2652運放),則可以忽略偏置電流的影響,但其輸入噪聲電壓偏大。
3 自動校正措施
對普通電阻,工作電流不同時會由于熱效應引起溫漂與熱電勢而產生誤差,因此在多數8位半數字多用表的電阻測量中,都采取了降低工作電流及消除熱電勢的措施。對合成電阻,工作電流不同時還存在運放失調電壓等引起的誤差,而且這些誤差由于溫漂及時漂等原因并不能長期穩定。
此合成電阻是集校準與7位半分辨率測量功能一體的校準儀的部件之一,通過測量功能的自校正,可以進一步提高精度。然而從式(2)可見,合成電阻與輸入電流有關,而實際的工作電流與自校正時的電流又不一定相同,所以Ue1、Ue2引起的誤差并不能直接通過測量阻值來校正。誤差的根據是Ue1、Ue2。所以有效的辦法是求出并消除Ue1、Ue2,使合成電阻與工作電流無關。
采用系統自帶的精密電阻測量體系可以求出Ue1、Ue2。具體步驟為:取K=0.9,用激勵電流為I1的*合適的量程一測得合成電阻為r3;取K=0,用量程一及激勵電流為I2的稍大的量程二來分別測量合成電阻,得到讀數r1、r2。回路電阻測試儀合成電阻的設計,將其電阻及電流值分別代入式(2)并整理,可得:
Ue2=I1Rs-I2r1   (4)
Ue2=I2Rs-I2r2   (5)
0.9Ue1=I1Rs-Ue2-0.1I1r3    (6)
對式(4)、(5)、(6)求解,得:
Ue1=1.1111I1(r1-0.1r3)   (7)
Ue2=(r1-r2)/(1/I2-1/I1)   (8)
可見失調電壓可以通過測量電阻及已知的恒流激勵源來求取。如激勵電流I1=0.5mA時,讀數r1為1000Ω。大電阻(20MΩ)量程的激勵倍增后的r3為10000.018Ω。大電阻(20MΩ)量程的激勵電流I2=0.5μA即電壓僅5mV時,r2變為1001.8Ω,此時可求得Ue1=-1μV,Ue2=-0.9μV。當然僅利用(4)、(6)兩式也可得到(7)式及Ue2=I1(Rs-r1),但已知值Rs及測量值r1的來源性質不同,會引入較大誤差。而式(8)中,r1、r2同為測量值,其漂移影響較小。
盡管求出了Ue1、Ue2,但由于施加于合成電阻的電壓或電流不定,所以并不能通過改變K值來消除誤差。有效的辦法是外接D/A轉換器來抵消Ue1、Ue2,以徹底消除式(2)、(3)中的非線性項。作者采用了廉價的10位雙D/A轉換器TLC5617的兩個通道分別對兩運放進行補償。

    對于運放A1,接成非單位增益的同相放大電路時,可在反相輸入端加入校零電路。為保持電壓跟隨器形式,設計了圖2所示的自動失調調零電路。AD707K等運算放大電路提供了失調電壓調節端,只要在兩調零端接入電位器至電源端,改變兩調節端的輸入電流即可實現手動調零。作者為實現自動調零,根據調零原理改進了調零電路。
圖中U4的基準電壓選為2V,則U4的輸出電壓范圍為0~4V。接入R3、R4、R5的目的是提供一個調節范圍的中心位置,使電壓能夠雙向調節。對D707K及圖示的參數,失調電壓與D/A轉換器的輸出電壓間的關系是線性的。經過實際測試,其靈敏度為7.35μV/V,即0.028V/bit,總調節范圍為±14.7μV。運算放大器A2采用與A1同樣的調零方法。
由此可見,可以利用數/模轉換器來消除Ue1及Ue2。由于運放失調漂移較小,可以間隔一定時間后再次自動校正。失調電壓及1μV以上的熱電勢等誤差電壓均可得于校正。至于運放的增益誤差等(如140dB增益時,1V的輸出電壓也會引起0.1μV的運放兩輸入端的誤差),其性質與系數K相同,通過內置電阻測量電路的自校正即可消除。因此,合成電阻精度主要取決于電阻測量電路。合成電阻中,D/A轉換器的控制、失調電壓的計算及其自動校正均由內置的DSP320C32來實現。
通過此法合成的電阻,可滿足較高精度電阻測量儀表的校正要求。通過調整D/A轉換器的輸入數據及切換標準電阻,可以合成出10Ω~100kΩ的各個電阻值,且具有很高的分辨率及穩定性。其長期穩定性也通過測量電路的自校正而得以保證。采用高精度低溫標線繞電阻作標準電阻,合成電阻的精度優于10ppm。經過校正后,合成電阻基本不受工作狀況的影響,所存在的問題是工作電壓受限,合成電阻的頻率響應與實際電阻尚有較大差跟,較適用于直流校驗應用中。

滬公網安備 31010602002582號